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    公开号:WO1991019179A1
    申请号:PCT/JP1991/000747
    申请日:1991-06-04
    公开日:1991-12-12
    发明作者:Isamu Kinoshita；Ren-Ichi Yuguchi；Kenji Suzuki
    申请人:The Furukawa Electric Co., Ltd.；
    IPC主号:G01M11-00
    专利说明:
    [0001] 明糸田書
    [0002] 光コネクタ付き多芯光フアイバーケーブルの検査方法及び 検査装置
    [0003] ' 技術分野
    [0004] 本発明は、 光コネクタが取り付けられた多芯光フアイバー ケーブルの良否を検査するための検査方法及び検査装置に関 する。
    [0005] 背景技術
    [0006] 光フアイバ一ケーブルには、 単芯の光フアイバ一を有する 単芯光ファイバ一ケーブルと、 複数の光 ノ アイバーを有する 多芯光ファイバ一ケーブルとがある。 いずれの光ファイバ一 ケーブルにも、 その末端には、 他の光ファイバ一ケ一ブルと 接続するための光コネクタが取り付けられる。 その際には、 光コネクタを取り付けたことによる接続損失を検査する必要 がある。
    [0007] 特に、 多芯光ファイバ一ケーブルでは、 光コネクタの装着 後には、 接続損失以外に、 光ファイバ一の配列を検査する必 要がある。 希にではあるが、 光コネクタの装着により、 光フ アイバーの配列が入れ替わってしまうことがあるからであ >る 多芯光フアイバーケーブルに光コネクタを装着した後の検 査に際しては、 従来では、 接繞損失の検査と配列の検査とを 別々の工程で行っている。 光ファイバ一の配列の検查は、 多 芯光フアイパーケーブルの一端から各光フアイバー毎に光を 入射させ、 光フアイバ一ケーブルの他端から各光フアイバー 毎に出射される光の順序を目視検査または画像センサで検查 することにより行われる。 また、 接続損失の検査は、 多芯光 フアイバ一ケーブルの一端から各光フアイバ一毎に光を入射 させ、 光フアイバーケ一ブルの他端から各光フアイバー毎に 出射される光の強度を光パワーメータにより測定することに より行われる。
    [0008] なお、 各光ファイバ一毎に光を入射させる方法としては、 各光フアイバーに入射する光毎に、 変調をかける方法が知ら れている。
    [0009] 従来の検查装置を用いた検査方法では、 光コネクタを装着 したことによる接続損失の検査と、 光ファイバ一の配列の検 査とが別工程で行われているため、 検査作業が煩雑であると 共に、 検査に要する時間が長いという問題点がある。
    [0010] 発明の開示
    [0011] 本発明は、 このような従来技術が有する不都合を解消する ためになされ、 接続損失の検査と配列の検査とを同時に行う ことが可能であり、 検査作業が容易であると共に、 検査時間 が短くて済む光コネクタ付き多芯光フアイバーケーブルの検 查方法及び検査装置を提供することを目的とする。
    [0012] 上記目的を達成するために、 本発明の検査方法は、 各光フ アイバーの入射側端部毎に所定の順序で光を入射させる光入 射手段を、 光ファイバ一ケーブルの一端に接続し、 光フアイ バーケーブルの他端には、 光ファイバ一の出射側端部に所定 位置離して受光手段を設置し、 各光ファイバ一の出射側端部 と受光手段との間に、 各出射側端部から出射されて受光手段 に入射される光の透過または遮断を、 各出射側端部から出射 される光毎に選択的に許容する光透過 ·遮断手段を設置し、 各光フアイバー毎に所定の順序で入射されて出射される光を 、 前記光透過，遮断手段で、 所定の順序で透過または遮断さ せ、 受光手段を用いて光の照射の有無と光の光量とを検出す ることにより、 光ファイバ一の配列順序の検査及びコネクタ との接続損失の検査とを同時に行うことを特徴とする。
    [0013] また、 本発明の検査装置は、 光ファイバ一ケーブルの一端 に接続され、 各光ファイバ一の入射側端部毎に所定の順序で 光を入射させる光入射手段と、 光ファイバ一ケーブルの他端 における光フアイバーの出射側端部に対して所定位置離して 設置される受光手段と、 各光ファイバ一の出射側端部と受光 手段との間に設置され、 各出射側端部から出射されて受光手 段に入射される光の透過または遮断を、 各出射側端部から出 射される光毎に選択的に許容する光透過 ·遮断手段とを有し 、 各光ファイバ一毎に所定の順序で入射されて出射される光 を、 前記光透過 ·遮断手段で、 所定の順序で透過または遮断 させ、 受光手段を用いて光の照射の有無と光の光量とを検出 することにより、 光ファイバ一の配列順序の検査及びコネク 夕との接繞損失の検査とを同時に行うことを特徵とする。 本発明に係る検査装置を用いて多芯光ファイバ一ケーブル の検査を行う場合には、 多芯光フアイバ一ケーブルの一端に 光入射装置を接続し、 そこから、 各光ファイバ一毎に、 所定 の順序で光を入射する。 入射された光は、 各光ファイバ一の 出射端部から受光手段に向けて出射される。 一方、 光透過 遮断手段は、 各光ファイバ一毎に所定の順序で入射されて出 射される光を、 光が入射された光フアイバーに対応した所定 の順序で選択的に透過または遮断する。
    [0014] したがって、 所定の順序で各光ファイバ一の出射側端部か ら出射する光を、 その順序に対応した順序で、 光透過 *遮断 手段が透過または遮断し、 受光センサがその光を順次受光ま たは受光しないことで、 光フアイバーの配列が正常であるか 否かを検知する。 また、 それぞれの光ファイバ一から出射さ れる光を受光手段で受光する際に、 その光の光量を同時に測 定することで、 光コネクタを接続したことによる光の接続損 失を測定することができる。
    [0015] このため、 光 ネクタ付き多芯光ファイバ一ケーブルの検 査を効率よく短時間で行うことが可能になる。
    [0016] 図面の簡単な説明
    [0017] 図 1は本発明の一実施例に係る光フアイバ一ケーブルの検 查装置の全体構成図、 図 2は検査装置に用いられる光透過， 遮断手段の斜視図、 図 3及び図 4はそれぞれ本発明の他の実 施例に係る検査装置に用いられる光透過 ·遮断手段の他の例 を示す斜視図である。
    [0018] 発明を実施するための最良の態様 以下、 本発明を図面に示す実施例に基づき詳細に説明する 図 1に示すように、 本実施例の検査装置 4 0は、 検査対象 としての多芯光ファイバ一ケーブル 1 1を検查するように構 成されている。 この検査装置 4 0は、 光入射手段 1 6 と、 光 透過 ·遮断手段 2 8 と、 受光手段 2 3 とを有する。 検査対 象としての多芯光ファイバ一ケーブル 1 1 には、 内部に複数 の光ファイバ一 4 2 (図 2参照） が配列してある。 この多芯 光ファイバ一ケーブル 1 1の一方の端部には、 光コネクタ 1 2が予め取り付けられており、 他方の端部では、 図 2に示す ように、 内蔵してある各光ファイバ一 4 2の端部が直線状に 配列して露出するようにしてある。 この実施例では、 光コネ クタ 1 2が取り付けてある光フアイバーケーブルの端部が光 入射側端部になり、 各光ファイバ一 4 2が露出している側が 光出射側端部となる。
    [0019] 光ファイバ一ケーブル 1 1の各光ファイバ一 4 2内にそれ ぞれ光を入射させるため、 光コネクタ 1 2には、 予め光損失 及びファイバー配列が確認されている検査光入射用光フアイ バーケーブル 1 4のコネクタ 1 5が接続される。 この光コネ クタ 1 5付き光ファイバ一ケーブル 1 4は、 発光器 1 S と接 続されて、 検査対象としての光ファイバ一ケーブル 1 1 に対 する光入射手段 1 6 となる。
    [0020] 光ファイバ一ケーブル 1 4内に内蔵してある光ファイバ一 の芯数は、 検査対象としての光ファイバ一ケーブル 1 1の芯 数と同一であり、 両ケ一ブルに取り付けてある光コネクタ 1 2 , 1 5で接続される光路数も一致している。 光ファイバ一 ケーブル 1 4におけるコネクタ 1 5 と反対側の端部では、 内 蔵されている各光ファイバ一 4 4が露出しており、 各光ファ ィバ一 4 の端部が発光器 1 3の各発光出力部 4 6に接続し てある。 各発光出力部 4 6には、 発光素子が装着してあり、 各発光素子が所定の順序で発光することにより、 各光フアイ バー 4 4に対し、 所定の順序で光を出力するようになってい る。 所定の順序で各発光素子を発光させる例としては、 例え ば、 最左端の発光素子から順次左側の発光素子を発光させる 例が考えられる。 発光素子の発光順序のコン トロールは、 制 御手段 1 Ίにより行われる。
    [0021] 検査対象となる多芯光ファイバ一ケーブル 1 1の光出射側 端部は、 受光センサ 2 1に対して所定位置離れて対向するよ うに設置してある。 多芯光フアイバーケーブル 1 1における いずれかの光ファイバ一 4 2から出射される光は、 受光セン サ 2 1に入り、 光パワーメ一夕 2 2でその光量が測定される ようになつている。 これら受光センサ 2 1及び光パワーメ一 夕 2 2が、 本実施例では受光手段 2 3を構成する。 受光セン サ 2 1 は、 光ファイバ一 4 2の出射側端部から出射した光を 一括して受光できるセンサであり、 単一の受光センサで構成 されても良いが、 複数の受光センサで構成されても良い。 受光センサ 2 1 と、 光ファイバ一ケーブル 1 1の光出射側 端部との間には、 図 2に示すような選択的透過部材 2 4が設 置してある。 この選択的透過部材 2 4は、 本実施例では、 い ずれか一本の光ファイバ一 4 2から出射される光のみを透過 させるスリ ッ ト状の透過孔 2 5が形成されたスリ ッ ト板で構 成される。 この選択的透過部材 2 4は、 図 1に示すピッチ送 り機構 2 6により、 光ファイバ一 4 2の配列方向にファイバ 一の 1 ピッチづっ移動されるようになつている。 1
    [0022] ピッチ送り機構 2 6 は、 例えばパルスモータと、 その回転 を直線運動に変換する機構とにより構成され、 送り制御器 2 7からの制御パルスにより動作する。 選択的透過部材 2 と 、 ピッチ送り機構 2 6 と、 送り制御器 2 7とが、 光透過《遮 断手段 2 8を構成して る。
    [0023] 光入射手段 1 6 と光透過 ·遮断手段 2 8 とは、 コン トロー ラ 1 7により同期して動作する。 すなわち、 光入射手段 1 6 により、 多芯光ファイバ一ケーブル 1 1 における片側の光フ アイバ一 4 2から順番に光を入射すると、 それと同じ順番で 光透過 ·遮断手段 2 8により、 スリ ッ ト状の透過孔 2 5が 1 ピッチづっ移動する。 したがって、 透過孔 2 5の 1 ピッチづ つの移動に際して、 その都度受光センサ 2 1 に光が入射され れば、 各光フアイバーが正常な配列で光コネクタ 1 2に接続 されたことを確認できる。 また、 その際に、 受光センサ 2 1 に入射した光の光量を測定すれば、 光コネクタ 1 2を光ファ ィバ—ケーブル 1 1 に接続したことによる光の接続損失を同 時に測定できる。
    [0024] もし仮に、 光コネクタ 1 2内で各光ファイバ一の配列順序 が入れ替わっていれば、 透過孔 2 5の位置と光を出射する光 ファイバ一 4 2の位置がずれて、 出射された光が選択的透過 部材 2 で遮断され、 受光センサ 2 1に光が入射しないこと になる。 これによつて、 光ファイバ一の配列不良を検出する ことができる。 上述した実施例では、 光透過 ·遮断手段の 光透過孔 2 5 として、 スリ ッ ト状の透過孔を用いたが、 透過 孔 2 5の形状はこれに限定されず、 ピンホール状の孔であつ ても良い。 ピンホール状の透過孔を用いれば、 各光ファイバ 一が直線状に配列された多芯光フアイバーケーブル以外の多 芯光ファイバ一ケーブルの検査にも本発明を適用することが 可能である。
    [0025] また、 光透過 ·遮断手段は、 光を選択的に透過及び遮断で きれば良いので、 図 3に示すように、 多芯光ファイバ一ケー ブル 1 1の各光フアイバー 4 2に対応するピッチで、 電圧印 可により透明または不透明になる液晶膜 3 1を配列させた選 択的透過部材 4 8を用いるようにしても良い。 この選択的透 過部材 4 8を用いる場合には、 各液晶膜 3 1に印可する電圧 の制御を行うことで、 例えば端の液晶膜 3 1から順次電圧を 印可することで、 電圧印可された液晶膜 3 1のみを順次透明 にし、 光ファイバ一 4 2から順次出射される光に同期させる ことができる。 ただし、 この実施例の場合には、 液晶膜 3 1 が透明な場合の光損失を予め測定し、 その測定値に基づき、 受光センサ 2 1で検出する光の光量の補正を行う必要がある
    [0026] 0
    [0027] また、 光透過 ·遮断手段の他の例として、 図 4に示す選択 的遮蔽部材' 3 2が例示される。 この選択的遮蔽部材 3 2は、 いずれか一つの光フアイバー 4 2の出射側端部から受光セン サ 2 1へ向かう光のみを遮断させるように構成されている。 そして、 この遮蔽部材 3 2は、 各光ファイバ一 4 2から順次 出射される光に同期して、 順次光ファイバ一の 1 ピッチづっ 横移動するように制御される。 この実施例の場合には、 遮蔽 部材 3 2を、 例えば図 4に示す状態から 1 ピッチ横方向に移 動させると、 受光センサ 2 1 は光を受光しない状態から、 受 光する状態に変化する。 このような変化が、 正常な光フアイ バーの配列である場合の変化であるとすると、 遮蔽部材 3 2 を移動させる前に受光センサ 2 1が光を受光している時は、 配列不良であると判断することができる。 この実施例の場合 に、 光の接続損失を検査する場合には、 遮蔽部材 3 2を 1 ピ ッチ横方向移動させた後に、 受光センサ 2 1 に入射する光の 光量を測定すれば良い。
    [0028] なお、 本発明は、 上述した実施例に限定されるものではな く、 本発明の範囲内で種々に改変することが可能である。 例えば、 多芯光ファイバ一ケーブルにおける全ての光ファ ィバ一 4 2の入射側端部に、 光を予め入射させておき、 各光 ファイバ一 4 2毎に入射される光を所定の順序で変調させ、 各光ファイバ一 4 2毎に所定の順 で変調されて出射される 光を、 前述したような選択的透過部材 2 4， 4 8を用いて、 所定の順序で透過させるように構成した検査方法及び検査装 置も本発明の範囲である。 この実施例では、 受光手段 2 2を 用いて光の変調の有無と光の光量とを検出することになる。 この実施例によっても、 光ファイバ一の配列順序の検査及び コネク夕との接続損失の検査とを同時に行うことができる。 また、 の実施例の変形として、 全ての光ファイバ一 4 2 に予め光を入射するのでなく、 変調された光のみを所定の順 番で検査対象としての光フアイバーに順次入射するように構 成する方法も考えられる。
    权利要求:
    Claims ic 請求 の範囲
    1. 少なく とも一端に光コネクタ （ 1 2) が取り付けられ た多芯光フアイバーケーブルを検査する方法において、 各光ファイバ一 （4 2) の入射側端部毎に所定の順序で光 を入射させる光入射手段 （ 1 6 ) を、 光ファイバ一ケーブル ( 1 1 ) の一端に接続し、
    光ファイバ一ケーブル （ 1 1 ) の他端には、 光ファイバ一 の出射側端部に所定位置離して受光手段 （2 3) を設置し、 各光ファイバ一 （4 2 ) の出射側端部と受光手段 （ 2 3) との閭に、 各出射側端部から出射されて受光手段 （ 2 3 ) に 入射される光の透過または遮断を、 各出射側端部から出射さ れる光毎に選択的に許容する光透過 ·遮断手段 （ 2 8) を設 置し、
    各光フアイパー毎に所定の順序で入射されて出射される光 を、 前記光透過 ·遮断手段 （ 2 8 ) で、 所定の順序で透過ま たは遮断させ、 受光手段 （2 3) を用いて光の照射の有無と 光の光量とを検出することにより、 光ファイバ一 （4 2) の 配列順序の検査及びコネクタ （ 1 2) との接続損失の検査と を同時に行うことを特徴とする多芯光フアイバ一ケーブルの 検査方法。
    .
    2. 少なく とも一端に光コネクタ （ 1 2) が取り付けられ た多芯光ファイバ一ケーブルを検査する方法において、 各光ファイバ一 （4 2) の入射側端部毎に入射される光を 所定の頫序で変調させる光入射手段 （ 1 6) を、 光ファイバ 1：
    —ケーブルの一端に接続し、
    光ファイバ一ケーブル （ 1 1 ) の他端には、 光ファイバ一 ( 4 2 ) の出射側端部に所定位置離して受光手段 （ 2 3 ) を 設置し、
    • 各光ファイバ一 （ 4 2 ) の出射側端部と受光手段 （ 2 3 ) との間に、 各出射側端部から出射されて受光手段 （ 2 3 ) に 入射される光の透過を、 各出射側端部から出射される光毎に 選択的に許容する光透過 ·遮断手段 （ 2 8 ) を設置し、 各光フアイバー毎に所定の順序で変調されて出射される光 を、 前記光透過 ·遮断手段 （ 2 8 ) で、 所定の順序で透過さ せ、 受光手段 （ 2 3 ) を用いて光の変調の有無と光の光量と を検出することにより、 光ファイバ一 （ 4 2 ) の配列順序の 検査及びコネクタ （ 1 2〉 との接続損失の検査とを同時に行 うことを特徵とする多芯光フアイバーケ一ブルの検査方法。
    3. 前記受光手段 （ 2 3 ) は、 前記出射側端部から出射し た光を一括して受光できる受光センサ （ 2 1 ) を有する請求 項 1 または 2に記載の光ファイバ一ケーブルの検查方法。 .
    4. 前記光透過 ·遮断手段は、 いずれか一つの光ファイバ - ( 4 2 ) の出射側端部から受光手段 （ 2 3 ) へ向かう光の みを透過させる透過孔 （ 2 5 ) が形成してある選択的透過部 材 （ 2 4 ) と、 透過孔 （ 2 5 ) を透過することができる光を 切り替えるように、 選択的透過部材 （ 2 4 ) を所定のピッチ で移動させるピッチ送り機構 （ 2 6 ) とを有する請求項 1か ら 3のいずれかに記載の光フアイバーケーブルの検査方法。
    5. 前記光透過 ·遮断手段は、 電圧印可により透明または 不透明になる液晶膜 （ 3 1 ) が、 各光フアイバ一 （ 4 2) の 出射側端部に対応したピッチで配置してある選択的透過部材
    ( 4 8) を有する請求項 1から 3のいずれかに記載の光ファ ィバ—ケ—ブルの検査方法。
    6. 前記光透過 ·遮断手段は、 いずれか一つの光ファイバ 一 ( 4 2) の出射側端部から受光手段 （ 2 3 ) へ向かう光の みを遮断させる選択的遮蔽部材 （ 3 2) と、 選択的遮蔽部材
    ( 3 2) により.遮断される光を切り替えるように、 選択的遮 蔽部材 （ 3 2) を所定の.ピ チで移動させるピッチ送り機構
    ( 2 6 ) とを有する請求項 1 または 3に記載の光フアイバ一 ケーブルの検査方法。
    7. 光コネクタが取り付けられた側の光フアイバ一ケープ ルの一端に、 接続損失がすでに知られている検査光入射用光 ファイバ一ケーブル （ 1 4) のコネクタを連結し、 この検査 光入射用光ファイバ一ケーブル （ 1 4 ) を通して、 検査すベ き光フアイバ一ケーブルの各光フアイバー毎に、 光を入射さ せることを特徵とする請求項 1から 6のいずれかに記載の光 フアイバーケ一ブルの検查方法。
    8. 少なく とも一端に光コネクタ （ 1 2) が取り付けられ た多芯光フアイパーケーブルを検査する検查装置において、 光ファイバ一ケーブル （ 1 1 ) の一端に接続され、 各光フ アイバー （4 2) の入射側端部毎に所定の順序で光を入射さ せる光入射手段 （ 1 6) と、
    光ファイバ一ケーブル （ 1 1 ) の他端における光ファイバ ― (4 2) の出射側端部に対して所定位置離して設置される IS
    受光手段 （ 2 3 ) と、
    各光ファイバ一 （ 4 2 ) の出射側端部と受光手段 （ 2 3 ) との間に設置され、 各出射側端部から出射されて受光手段 （ 2 3 ) に入射される光の透過または遮断を、 各出射側端部か ら出射される光毎に選択的に許容する光透過 *遮断手段 （ 2 8 ) とを有し、
    各光フアイバー毎に所定の順序で入射されて出射される光 を、 前記光透過 ，遮断手段 （ 2 8 ) で、 所定の順序で透過ま たは遮断させ、 受光手段 （ 2 8 ) を用いて光の照射の有無と 光の光量とを検出することにより、 光ファイバ一 （ 4 2 ) の 配列順序の検査及びコネクタ （ 1 2 ) との接続損失の検査と を同時に行うことを特徵とする多芯光フアイバーケーブルの 検査装置。
    9. 少なく とも一端に光コネクタ （ 1 2 ) が取り付けられ た多芯光フアイバーケーブルを検査する検査装置において、 光ファイバ一ケーブル （ 1 1 ) の一端に接続され、 各光フ アイバ一 （ 4 2 ) の入射側端部毎に入射される光を所定の順 序で変調させる光入射手段 （ 1 6 ) と、
    光フアイバ一ケーブルの他端における光フアイバーの出射 側端部に対して所定位置離して設置される受光手段 （ 2 3 ) と、
    各光ファイバ一 （ 4 2 ) の出射側端部と受光手段 （ 2 3 ) との間に設置され、 各出射側端部から出射されて受光手段 （ 2 3 ) に入射される光の透過を、 各出射側端部から出射され る光毎に選択的に許容する光透過 ，遮断手段 （ 2 8 ) とを有 し、
    各光ファイバ一毎に所定の順序で変調されて出射される光 を、 前記光透過，遮断手段 （ 2 8 ) で、 所定の順序で透過さ せ、 受光手段 （ 2 3 ) を用いて光の変調の有無と光の光量と を検出することにより、 光ファイバ一 （4 2) の配列順序の 検査及びコネク夕との接続損失の検査とを同時に行うことを 特徵とする多芯光ファイバ一ケーブルの検査装置。
    1 0. 前記受光手段は、 前記出射側端部から出射した光を 一括して受光できる受光センサ （2 1 ) を有する請求項 8ま たは 9に記載の光フアイバーケーブルの検査装置。
    1 1. 前記光透過 ·遮断手段は、 いずれか一つの光フアイ バー （4 2) の出射側端部から受光手段 （ 2 3 ) へ向かう光 のみを透過させる透過孔 （ 2 5 ) が形成してある選択的透過 部材 （ 2 4 ) と、 透過孔 （2 5 ) を透過することができる光 を切り替えるように、 選択的透過部材 （ 2 4) を所定のピッ チ 'で移動させるピッチ送り機構 （ 2 6 ) とを有する請求項 8 から 1 0のいずれかに記載の光フアイバーケーブルの検査装
    1 2. 前 la光透過 ·遮断手段は、 電圧印可により透明また は不透明になる液晶膜 （ 3 1 ) が、 各光ファイバ一 （4 2) の出射側端部に対応したピッチで配置してある選択的透過部 材 （ 4 8) を有する請求項 8から 1 0のいずれかに記載の光 フアイバーケーブルの検査装置。
    1 3. 前記光透過，遮断手段は、 いずれか一つの光フアイ パ一 （4 2) の出射側端部から受光手段へ向かう光のみを遮 断させる選択的遮蔽部材 （ 3 2 ) と、 選択的遮蔽部材 （ 3 2 ) により遮断される光を切り替えるように、 選択的遮蔽部材
    ( 3 2 ) を所定のピッチで移動させるピッチ送り機構 （ 2 6 ) とを有する請求項 8 または 1 0に記載の光フアイバ一ケ一 ブルの検査装置。
    1 4. 前記光入射手段 （ 1 6 ) は、 光コネクタが取り付け られた側の光ファイバ一ケーブル （ 1 1 ) の一端にコネクタ
    ( 1 5 ) を介して接続され、 接続損失がすでに知られている 検査光入射用光ファイバ一ケーブル （ 1 4 ) を有し、 この検 査光入射用光ファイバ一ケーブル （ 1 4 ) を通して、 検査す べき光ファイバ一ケーブル （ 1 1 ) の各光ファイバ一 （ 4 2 ) 毎に、 光を入射させることを特徴とする請求項 8から 1 3 のいずれかに記載の光フアイバーケーブルの検査装置。
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    EP0153924B1|1987-06-24|Measuring apparatus and method
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    EP0144897B1|1989-03-22|Fiber optics system with self test capability
    同族专利:
    公开号 | 公开日
    DE69107577D1|1995-03-30|
    EP0485629A4|1993-04-07|
    JP3009426B2|2000-02-14|
    EP0485629A1|1992-05-20|
    EP0485629B1|1995-02-22|
    JPH0438435A|1992-02-07|
    引用文献:
    公开号 | 申请日 | 公开日 | 申请人 | 专利标题
    法律状态:
    1991-12-12| AL| Designated countries for regional patents|Kind code of ref document: A1 Designated state(s): AT BE CH DE DK ES FR GB GR IT LU NL SE |
    1992-01-30| WWE| Wipo information: entry into national phase|Ref document number: 1991910197 Country of ref document: EP |
    1992-05-20| WWP| Wipo information: published in national office|Ref document number: 1991910197 Country of ref document: EP |
    1995-02-22| WWG| Wipo information: grant in national office|Ref document number: 1991910197 Country of ref document: EP |
    优先权:
    申请号 | 申请日 | 专利标题
    JP2/144397||1990-06-04||
    JP2144397A|JP3009426B2|1990-06-04|1990-06-04|光コネクタ付き多心光ファイバの検査装置|EP19910910197| EP0485629B1|1990-06-04|1991-06-04|Method and device for testing multi-core optical fiber cable fitted with optical connector|
    DE69107577T| DE69107577D1|1990-06-04|1991-06-04|Methode und gerät zum testen von mehradrigen optischen fiberkabeln mit optischen anschlüssen.|
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